OrderedDecoupledHWIOTesterを使用して複数のデカップリングされた入力ポートをテストする

Question

OrderedDecoupledHWIOTesterは、2つ以上のデカップリングされた入力ポートを持つDUTのテストをサポートしていますか？例えば

： -

のInputEvent（decoupledPort2.bits <から11）

のInputEvent（10 decoupledPort1.bits <）：

のようなものを表現する方法はありますこれら2つのポートに同時にゲートされた2つの一連の値を作成しますか？

Answer 1

短い答えはノーです。 の部分はです。OrderedDecoupledHWIOTesterは、入力イベントが同時でないことを意味します。私はchisel3.iotesters.AdvTesterを使ってこれを実装できると思います。しかし、良い例は見当たりません。私が創造できるかどうかわかります。